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        UNFORS Xi 射線放射評價系統

        簡要描述:UNFORS Xi 射線放射評價系統可用于檢測所有診斷用X光設備,包括一般的工頻X線發生器和高檔的變頻X線高壓發生器的X光機、拍片機、透視機、脈沖透視機、牙科機、全景牙科機、牙科CT機、低劑量CR機、DR機、小型便攜式X光機、DSA(數字減影系統)、不同靶材的乳腺機、掃描乳腺機、CT機等醫用X光機安全質量性能檢測。
        同時還具備測量光照度,測量散漏射線的功能。

        • 產品型號:
        • 廠商性質:經銷商
        • 更新時間:2017-07-14
        • 訪  問  量:3280
        詳情介紹

          UNFORS Xi 射線放射評價系統簡介:

        可用于檢測所有診斷用X光設備,包括一般的工頻X線發生器和高檔的變頻X線高壓發生器的X光機、拍片機、透視機、脈沖透視機、牙科機、全景牙科機、牙科CT機、低劑量CR機、DR機、小型便攜式X光機、DSA(數字減影系統)、不同靶材的乳腺機、掃描乳腺機、CT機等醫用X光機安全質量性能檢測。 
        同時還具備測量光照度,測量散漏射線的功能。檢測探頭小巧,更便于檢測對探頭擺放位置要求嚴格的設備如全景牙科機等。

        UNFORS Xi 射線放射評價系統測量方式:

           a)一臺主機可以搭配不同探頭用以滿足不同客戶的需求,并可以根據客戶需求將探頭功能分離和整合。

           b)配備專業數據處理軟件,基于微軟技術,用于顯示存儲分析檢測數據、波形,生成測試報告,并可以通過藍牙無線連接或RS232有線連接與主機進行實時通訊與雙向控制。

           c)半導體固態探頭,體積小巧大大增加了設備的便攜性(zui輕探頭僅50g),相比電離室探頭不受外界環境溫濕度的影響。

          d)測量低劑量率時無需更換探頭

        測量模式

           主機須自帶顯示器,主機無須外接顯示器??梢砸淮纹毓饪赏瑫r測量電壓,劑量,劑量率,半價層,脈沖,脈沖率,每脈沖劑量,曝光時間,連接mAs連接線可同時顯示mA,mAs.,連接外接設備可以同時顯示測量參數波形包括kV,dose,mA的波形。

           可以測量多種光束質量的乳腺機以及掃描乳腺機,光束質量包括Mo/Mo, Mo/Al, Mo/Rh, Rh/Rh, Rh/Al, W/Rh,, W/Ag, W/Al。 同時一次曝光可以直接測量出乳腺機半價層。

        屏幕亮度計:

        測量范圍:0.01~19990cd/m2 

        精度:≥測量值的±0.5%±1個字 

        準確度:≤測量值的±4%±1個字(相對于NIM標準) 

        光譜響應特性:符合*標準

        線性誤差:≤測量值的±0.2%±1個字

        溫度特性:≤測量值的±0.1%/℃±1個字

        長期穩定性:年變化<2%

         

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